Angebotsfrist
27. Nov 2026, 10:00
Geschätzter Wert
Nicht angegeben
CPV-Code
38514200
NUTS-Region
DE242
Zweck
Gegenstand der Beschaffung ist ein höchstauflösendes Rasterkraftmikroskop (AFM) einschließlich aller für den Betrieb erforderlichen Hard- und Softwarekomponenten. Das System dient der hochauflösenden Charakterisierung von Oberflächen und Grenzflächen auf Nano- und atomarer Skala, insbesondere für 3D-AFM-Messungen in Flüssigkeiten sowie driftarme Langzeitmessungen in Forschungsanwendungen.
Lose 1 Los
Höchstauflösendes Rasterkraftmikroskop (AFM)
Gegenstand der Beschaffung ist ein höchstauflösendes Rasterkraftmikroskop (AFM) einschließlich aller für den Betrieb erforderlichen Hard- und Softwarekomponenten. Das System dient der hochauflösenden Charakterisierung von Oberflächen und Grenzflächen auf Nano- und atomarer Skala, insbesondere für 3D-AFM-Messungen in Flüssigkeiten sowie driftarme Langzeitmessungen in Forschungsanwendungen.
- CPV-Code
- 38514200
- Angebotsfrist
- 27. Nov 2026, 10:00
Eignungskriterien 1 Eintrag
Allgemeiner Jahresumsatz
https://www.evergabe.bayern.de/evergabe.bieter/api/supplier/external/subproject/720dd6ee-34a2-4ae8-b2d9-0cb5d7a2b23a/suitabilitycriteria
Losbezug: LOT-0001
Zuschlagskriterien 2 Einträge
Preis
50 %Losbezug: LOT-0001
Qualität
50 %https://www.evergabe.bayern.de/evergabe.bieter/api/supplier/external/subproject/720dd6ee-34a2-4ae8-b2d9-0cb5d7a2b23a/awardcriteria
Losbezug: LOT-0001
Ausschlussgründe 1 Eintrag
Ausschlussgrund
Gemäß § 123, 124 GWB, § 57, 42 Abs. 1 VgV und § 16 VOB/A