Deinstallation, Verlagerung, Wiederinstallation, Inbetriebnahme DualBeam-FIB-SEM-Systems-Opex - PR1262394-3220-P

Deinstallation, Verlagerung an einen neuen Aufstellort, Wiederinstallation, den Wiederanschluss (Re-Hook-up), die Inbetriebnahme, Kalibrierung und Leistungsabnahme eines vorhandenen DualBeam-FIB-SEM/FIB-REM-Systems (Focused Ion Beam - Scanning Electron Microscope), Hersteller TESCAN GmbH, Modell GAIA3 GMH beziehungsweise GAIA3GMH, Erstinstallation 2018. Einbezogen sind die vorhandenen Systemkomponenten, insbesondere Kleindiek-Mikromanipulator, Oxford-EDX-Detektor und TOFWERK-TOF-SIMS. Zum Leistungsumfang gehören außerdem Standort- und Raummessungen hinsichtlich Bodenschwingungen, akustischer Einflüsse sowie magnetischer und elektromagnetischer Störfelder. Soweit erforderlich, sind geeignete technische Entstörungs- und Kompensationsmaßnahmen zu planen und umzusetzen. Nach der Wiederinstallation sind die technische Integrität und die bisherige Geräteleistung durch dokumentierte Funktions-, Vakuum-, Auflösungs-, Kalibrierungs- und Performanceprüfungen einschließlich Site Acceptance Test nachzuweisen.

CPV-Code

51430000

Umsatz der letzten 3 Geschäftsjahre - Dieses Kriterium ist NICHT das einzige Eignungskriterium. Die vollständigen Eignungskriterien finden Sie hier: https://vergabe.fraunhofer.de/NetServer/SelectionCriteria/54321-Tender-1a0801153c1-68ac6e729562c277

Losbezug: LOT-0000

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Es gelten alle einschlägigen zwingenden wie fakultativen Ausschlussgründe, die durch nationales Recht normiert sind.